型號: | SN54ABT8373 |
廠商: | Texas Instruments, Inc. |
英文描述: | Scan Test Devices With Octal D-Type Latches(掃描測試裝置(帶八D鎖存器)) |
中文描述: | 掃描測試設備與八路D類鎖存器(掃描測試裝置(帶八?鎖存器)) |
文件頁數(shù): | 16/19頁 |
文件大小: | 391K |
代理商: | SN54ABT8373 |
相關PDF資料 |
PDF描述 |
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SN74ABT8373 | Scan Test Devices With Octal D-Type Latches(掃描測試裝置(帶八D鎖存器)) |
SN54ABT8374 | Scan Test Devices With Octal D-Type Edge-Triggered Flip-Flops(掃描測試裝置(帶八D邊沿觸發(fā)器)) |
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SN54ABT845 | Octal Bus Interface D-Type Latches With 3-State Outputs(八總線接口D鎖存器(三態(tài)輸出)) |
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相關代理商/技術參數(shù) |
參數(shù)描述 |
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SN54ABT841 | 制造商:TI 制造商全稱:Texas Instruments 功能描述:10-BIT BUS-INTERFACE D-TYPE LATCHES WITH 3-STATE OUTPUTS |
SN54ABT841FK | 制造商:TI 制造商全稱:Texas Instruments 功能描述:10-BIT BUS-INTERFACE D-TYPE LATCHES WITH 3-STATE OUTPUTS |
SN54ABT841JT | 制造商:TI 制造商全稱:Texas Instruments 功能描述:10-BIT BUS-INTERFACE D-TYPE LATCHES WITH 3-STATE OUTPUTS |
SN54ABT841W | 制造商:TI 制造商全稱:Texas Instruments 功能描述:10-BIT BUS-INTERFACE D-TYPE LATCHES WITH 3-STATE OUTPUTS |
SN54ABT843 | 制造商:TI 制造商全稱:Texas Instruments 功能描述:9-BIT BUS-INTERFACE D-TYPE LATCHES WITH 3-STATE OUTPUTS |