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參數(shù)資料
| 型號： | SN54ABT8373 |
| 廠商： | Texas Instruments, Inc. |
| 英文描述： | Scan Test Devices With Octal D-Type Latches(掃描測試裝置(帶八D鎖存器)) |
| 中文描述： | 掃描測試設(shè)備與八路D類鎖存器（掃描測試裝置（帶八?鎖存器）） |
| 文件頁數(shù)： | 2/19頁 |
| 文件大小： | 391K |
| 代理商： | SN54ABT8373 |
SN54ABT8373, SN74ABT8373
SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE LATCHES
SCBS487 – JULY 1994
3–2
POST OFFICE BOX 655303
DALLAS, TEXAS 75265
FUNCTION TABLE
(normal mode)
INPUTS
OUTPUT
Q
OE
L
LE
H
D
H
H
L
H
L
L
L
L
X
Q0
Z
H
X
X
functional block diagram
Boundary-Control
Register
Bypass Register
Boundary-Scan Register
Instruction Register
TDI
TMS
TCK
TDO
TAP
Controller
VCC
VCC
OE
LE
1D
One of Eight Channels
1Q
C1
1D
24
1
23
14
12
13
2
11
Pin numbers shown are for the DW and JT packages.
P
相關(guān)PDF資料 |
PDF描述 |
|---|---|
| SN74ABT8373 | Scan Test Devices With Octal D-Type Latches(掃描測試裝置(帶八D鎖存器)) |
| SN54ABT8374 | Scan Test Devices With Octal D-Type Edge-Triggered Flip-Flops(掃描測試裝置(帶八D邊沿觸發(fā)器)) |
| SN74ABT8374 | Scan Test Devices With Octal D-Type Edge-Triggered Flip-Flops(掃描測試裝置(帶八D邊沿觸發(fā)器)) |
| SN54ABT845 | Octal Bus Interface D-Type Latches With 3-State Outputs(八總線接口D鎖存器(三態(tài)輸出)) |
| SN74ABT845 | Octal Bus Interface D-Type Latches With 3-State Outputs(八總線接口D觸發(fā)器(三態(tài)輸出)) |
相關(guān)代理商/技術(shù)參數(shù) |
參數(shù)描述 |
|---|---|
| SN54ABT841 | 制造商:TI 制造商全稱:Texas Instruments 功能描述:10-BIT BUS-INTERFACE D-TYPE LATCHES WITH 3-STATE OUTPUTS |
| SN54ABT841FK | 制造商:TI 制造商全稱:Texas Instruments 功能描述:10-BIT BUS-INTERFACE D-TYPE LATCHES WITH 3-STATE OUTPUTS |
| SN54ABT841JT | 制造商:TI 制造商全稱:Texas Instruments 功能描述:10-BIT BUS-INTERFACE D-TYPE LATCHES WITH 3-STATE OUTPUTS |
| SN54ABT841W | 制造商:TI 制造商全稱:Texas Instruments 功能描述:10-BIT BUS-INTERFACE D-TYPE LATCHES WITH 3-STATE OUTPUTS |
| SN54ABT843 | 制造商:TI 制造商全稱:Texas Instruments 功能描述:9-BIT BUS-INTERFACE D-TYPE LATCHES WITH 3-STATE OUTPUTS |
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