- 您現(xiàn)在的位置：買賣IC網(wǎng) > PDF目錄378217 > 82845MZ (INTEL CORP) Intel 845 Family Chipset-Mobile 82845MP/82845MZ Chipset Memory Controller Hub Mobile (MCH-M) PDF資料下載
參數(shù)資料
| 型號： | 82845MZ |
| 廠商： | INTEL CORP |
| 元件分類： | 外設(shè)及接口 |
| 英文描述： | Intel 845 Family Chipset-Mobile 82845MP/82845MZ Chipset Memory Controller Hub Mobile (MCH-M) |
| 中文描述： | MULTIFUNCTION PERIPHERAL, PBGA593 |
| 封裝： | 37.50 X 37.50 MM, FCBGA-593 |
| 文件頁數(shù)： | 143/157頁 |
| 文件大小： | 1407K |
| 代理商： | 82845MZ |
第1頁第2頁第3頁第4頁第5頁第6頁第7頁第8頁第9頁第10頁第11頁第12頁第13頁第14頁第15頁第16頁第17頁第18頁第19頁第20頁第21頁第22頁第23頁第24頁第25頁第26頁第27頁第28頁第29頁第30頁第31頁第32頁第33頁第34頁第35頁第36頁第37頁第38頁第39頁第40頁第41頁第42頁第43頁第44頁第45頁第46頁第47頁第48頁第49頁第50頁第51頁第52頁第53頁第54頁第55頁第56頁第57頁第58頁第59頁第60頁第61頁第62頁第63頁第64頁第65頁第66頁第67頁第68頁第69頁第70頁第71頁第72頁第73頁第74頁第75頁第76頁第77頁第78頁第79頁第80頁第81頁第82頁第83頁第84頁第85頁第86頁第87頁第88頁第89頁第90頁第91頁第92頁第93頁第94頁第95頁第96頁第97頁第98頁第99頁第100頁第101頁第102頁第103頁第104頁第105頁第106頁第107頁第108頁第109頁第110頁第111頁第112頁第113頁第114頁第115頁第116頁第117頁第118頁第119頁第120頁第121頁第122頁第123頁第124頁第125頁第126頁第127頁第128頁第129頁第130頁第131頁第132頁第133頁第134頁第135頁第136頁第137頁第138頁第139頁第140頁第141頁第142頁當(dāng)前第143頁第144頁第145頁第146頁第147頁第148頁第149頁第150頁第151頁第152頁第153頁第154頁第155頁第156頁第157頁
9.4.
Intel
845MZ Chipset:82845MZ (MCH-M)
250687-001
Datasheet
143
R
Testability
In the
MCH-M
, testability for Automated Test Equipment (ATE) board level testing has been implemented
as and XOR chain. An XOR-tree is a chain of XOR gates, each with one input pin connected to it. Refer to
Figure 11 for an example XOR chain.
Figure 11. XOR–Tree Chain
Input
XOR
Out
xor.vsd
Input
Input
Input
Input
VCC1_8
The algorithm used for in –circuit test is as follows
Drive all input pins to an initial logic level ‘1’. Observe the output corresponding to scan chain being
tested.
Toggle pins one at a time starting from the first pin in the chain, continuing to the last pin, from its
initial logic level to the opposite logic level. Observe the output changes with each pin toggle.
9.4.1.
XOR Test Mode Initialization
XOR test mode can be entered by pulling three shared pins (reset straps) low through the rising transition
of RSTINB. The signals that need to be pulled are as follows:
GGNTB = 0 (Global strap enable)
SBA[1]
= 0 (XOR strap)
ST[2]
= 0 (PLL Bypass mode; it is recommended to enter PLL Bypass in XOR test mode)
相關(guān)PDF資料 |
PDF描述 |
|---|---|
| 82845PE | 82845GE Graphics and Memory Controller Hub (GMCH) and 82845PE Memory Controller Hub (MCH) |
| 82845GE | 82845GE Graphics and Memory Controller Hub (GMCH) and 82845PE Memory Controller Hub (MCH) |
| 8284A | Clock Generator and Driver for 8066, 8088 Processors |
| 8284A-1 | Clock Generator and Driver for 8066, 8088 Processors |
| 8284 | TWO-OUTPUT LNB SUPPLY AND CONTROL-VOLTAGE REGULATOR |
相關(guān)代理商/技術(shù)參數(shù) |
參數(shù)描述 |
|---|---|
| 82845PE | 制造商:INTEL 制造商全稱:Intel Corporation 功能描述:82845GE Graphics and Memory Controller Hub (GMCH) and 82845PE Memory Controller Hub (MCH) |
| 8284611SM | 制造商:Thomas & Betts 功能描述: |
| 828461-2 | 制造商:TE Connectivity 功能描述:19P CPC STECK-GEH - Bulk |
| 828462-1 | 制造商:TE Connectivity 功能描述:19P CPC AUFNAHMEGEH - Bulk |
| 828465-000 | 制造商:TE Connectivity 功能描述:Shrink Boot Adapters 180 制造商:TE Connectivity 功能描述:Shrink Boot Adapters 180° 制造商:TE Connectivity 功能描述:TXR40AC00-2418AI - Bulk |
發(fā)布緊急采購，3分鐘左右您將得到回復(fù)。