參數(shù)資料
型號： LH28F320S5H-L
廠商： Sharp Corporation
英文描述： 32M-BIT ( 2Mbit x16 / 4Mbit x8 )Boot Block Flash MEMORY(32M位( 2M位 x16 / 4M位 x8 )Boot Block 閃速存儲器)
中文描述： 32兆位（2Mbit的x16 /的4Mb × 8）啟動塊閃存（32兆位（200萬位x16 / 4分位× 8）啟動塊閃速存儲器）
文件頁數(shù)： 36/50頁
文件大小： 338K
代理商： LH28F320S5H-L
PRELMNARY
LH28F320S5-L/S5H-L
- 36 -
6.2.2 AC INPUT/OUTPUT TEST CONDITIONS
TEST POINTS
INPUT
OUTPUT
1.5
1.5
3.0
0.0
Fig. 12 Transient Input/Output Reference Waveform for V
CC
= 5.0
±
0.25 V
(High Speed Testing Configuration)
2.0
0.8
2.0
0.8
2.4
0.45
TEST POINTS
INPUT
OUTPUT
Fig. 13 Transient Input/Output Reference Waveform for V
CC
= 5.0
±
0.5 V
(Standard Testing Configuration)
AC test inputs are driven at 3.0 V for a Logic "1" and 0.0 V for a Logic "0". Input timing begins, and output
AC test inputs are driven at V
OH
(2.4 V
TTL
) for a Logic "1" and V
OL
(0.45 V
TTL
) for a Logic "0". Input timing
begins at V
IH
(2.0 V
TTL
) and V
IL
(0.8 V
TTL
). Output timing ends at V
IH
and V
IL
. Input rise and fall times (10% to
90%) < 10 ns.
Fig. 14 Transient Equivalent Testing
Load Circuit
TEST CONFIGURATION
V
CC
= 5.0±0.25 V
(NOTE 1)
V
CC
= 5.0±0.5 V
NOTE :
1.
Applied to high-speed products, LH28F320S5-L90 and
LH28F320S5H-L90.
C
(pF)
30
100
DEVICE
UNDER
TEST
C
L
Includes Jig
Capacitance
R
L
= 3.3 k
C
L
OUT
1.3 V
1N914
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PDF描述
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LH28F320SKTD 32M Flash Memory(32M閃速存儲器)
LH28F400BVE-TL85 4MB (512KB x 8/256KB x 16) SmartVoltage Flash Memory(4M位(512K位 x 8/256K位x 16)閃速存儲器)
LH28F400BVHE-TL85 4MB (512KB x 8/256KB x 16) SmartVoltage Flash Memory(4M位(512K位 x 8/256K位x 16)閃速存儲器)
LH28F400SUE-NC60 4M (512K 】 8, 256K 】 16) Flash Memory
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參數(shù)描述
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