參數(shù)資料
型號: ADSP-21489KSWZ-4B
廠商: Analog Devices Inc
文件頁數(shù): 50/68頁
文件大小: 0K
描述: IC CCD SIGNAL PROCESSOR 176LQFP
標(biāo)準(zhǔn)包裝: 1
系列: SHARC®
類型: 浮點
接口: EBI/EMI,DAI,I²C,SPI,SPORT,UART/USART
時鐘速率: 400MHz
非易失內(nèi)存: 外部
芯片上RAM: 5Mb
電壓 - 輸入/輸出: 3.30V
電壓 - 核心: 1.10V
工作溫度: 0°C ~ 70°C
安裝類型: 表面貼裝
封裝/外殼: 176-LQFP 裸露焊盤
供應(yīng)商設(shè)備封裝: 176-LQFP-EP(24x24)
包裝: 托盤
Rev. B
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March 2013
JTAG Test Access Port and Emulation
Table 54. JTAG Test Access Port and Emulation
Parameter
Min
Max
Unit
Timing Requirements
tTCK
TCK Period
20
ns
tSTAP
TDI, TMS Setup Before TCK High
5
ns
tHTAP
TDI, TMS Hold After TCK High
6
ns
tSSYS
1
1 System Inputs = DATA15–0, CLK_CFG1–0, RESET, BOOT_CFG2–0, DAI_Px, DPI_Px, and FLAG3–0.
System Inputs Setup Before TCK High
7
ns
tHSYS
1
System Inputs Hold After TCK High
18
ns
tTRSTW
TRST Pulse Width
4tCK
ns
Switching Characteristics
tDTDO
TDO Delay from TCK Low
10
ns
tDSYS
2
2 System Outputs = DAI_Px, DPI_Px ADDR23–0, AMI_RD, AMI_WR, FLAG3–0, SDRAS, SDCAS, SDWE, SDCKE, SDA10, SDDQM, SDCLK and EMU.
System Outputs Delay After TCK Low
tTCK ÷ 2 + 7
ns
Figure 40. IEEE 1149.1 JTAG Test Access Port
TCK
TMS
TDI
TDO
SYSTEM
INPUTS
SYSTEM
OUTPUTS
tTCK
tSTAP
tHTAP
tDTDO
tSSYS
tHSYS
tDSYS
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