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參數(shù)資料
| 型號(hào)： | DS3160 |
| 元件分類： | 通信及網(wǎng)絡(luò) |
| 英文描述： | Ultraframer DS3/E3/DS2/E2/DS1/E1/DS0 |
| 中文描述： | Ultraframer DS3/E3/DS2/E2/DS1/E1/DS0 |
| 文件頁(yè)數(shù)： | 24/107頁(yè) |
| 文件大?。?/td> | 592K |
| 代理商： | DS3160 |
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DS3160
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2.7 JTAG Signal Description
Signal Name:
Signal Description:
Signal Type:
This signal is used to shift data into JTDI on the rising edge and out of JTDO on the falling edge. If not
used, this signal should be pulled high.
JTCLK
JTAG IEEE 1149.1 Test Serial Clock
Input
Signal Name:
Signal Description:
Signal Type:
Test instructions and data are clocked into this signal on the rising edge of JTCLK. If not used, this signal
should be left open-circuited.
JTDI
JTAG IEEE 1149.1 Test Serial Data Input
Input (with internal 10k
pullup)
Signal Name:
Signal Description:
Signal Type:
Test instructions are clocked out of this signal on the falling edge of JTCLK. If not used, this signal
should be left open-circuited.
JTDO
JTAG IEEE 1149.1 Test Serial Data Output
Output
Signal Name:
Signal Description:
Signal Type:
This signal is used to asynchronously reset the test access port controller. At power-up, JTRST must be
set low and then high. This action sets the device into the boundary-scan bypass mode allowing normal
device operation. If boundary scan is not used, this signal should be held low.
JTRST
JTAG IEEE 1149.1 Test Reset
Input (with internal 10k
pullup)
Signal Name:
Signal Description:
Signal Type:
This signal is sampled on the rising edge of JTCLK and is used to place the test port into the various
defined IEEE 1149.1 states. If not used, this signal should be left open-circuited.
JTMS
JTAG IEEE 1149.1 Test Mode Select
Input (with internal 10k
pullup)
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| DS3162 | 功能描述:網(wǎng)絡(luò)控制器與處理器 IC Dual ATM/Packet PHYs for DS3/E3/STS-1 RoHS:否 制造商:Micrel 產(chǎn)品:Controller Area Network (CAN) 收發(fā)器數(shù)量: 數(shù)據(jù)速率: 電源電流（最大值）:595 mA 最大工作溫度:+ 85 C 安裝風(fēng)格:SMD/SMT 封裝 / 箱體:PBGA-400 封裝:Tray |
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