參數(shù)資料
型號(hào)： PEF22554E
廠商： INFINEON TECHNOLOGIES AG
元件分類(lèi)： 數(shù)字傳輸電路
英文描述： DATACOM, FRAMER, PBGA160
封裝： GREEN, PLASTIC, QFP-144
文件頁(yè)數(shù)： 3/700頁(yè)
文件大?。?/td> 25742K
代理商： PEF22554E
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QuadFALC
TM
PEF 22554 E
Functional Description E1/T1/J1
Data Sheet
100
Rev. 1.2, 2006-01-26
Figure 21
Block Diagram of Test Access Port and Boundary Scan
After switching on the device (power-on), a reset signal has to be applied to TRS, which forces the TAP controller
into test logic reset state.
If no boundary scan operation is used, TRS, TMS, TCK and TDI do not need to be connected since pullup or
pulldown resistors ensure default input levels in this case.
Test handling (boundary scan operation) is performed using the pins TCK (Test Clock), TMS (Test Mode Select),
TDI (Test Data Input) and TDO (Test Data Output) when the TAP controller is not in its reset state, that means
TRS is connected to V
DD or it remains unconnected due to its internal pull up. Test data at TDI is loaded with a
clock signal connected to TCK. 1
B or 0B on TMS causes a transition from one controller state to another; constant
1 on TMS leads to normal operation of the chip.
An input pin (I) uses one boundary scan cell (data in), an output pin (O) uses two cells (data out and enable) and
an I/O-pin (I/O) uses three cells (data in, data out and enable). Note that most functional output and input pins of
the QuadFALC
TM are tested as I/O pins in boundary scan, hence using three cells.
The boundary scan length is 247.
The desired test mode is selected by serially loading a 8-bit instruction code into the instruction register through
TDI (LSB first), see Table 12. The test modes are:
EXTEST
Extest is used to examine the interconnection of the devices on the board. In this test mode at first all input pins
capture the current level on the corresponding external interconnection line, whereas all output pins are held at
constant values (0 or 1). Then the contents of the boundary scan is shifted to TDO. At the same time the next scan
vector is loaded from TDI. Subsequently all output pins are updated according to the new boundary scan contents
and all input pins again capture the current external level afterwards, and so on.
SAMPLE
Is a test mode which provides a snapshot of pin levels during normal operation.
F0115
TRS
TCK
TMS
TDI
TDO
clock
test
control
data in
enable
data
out
Clock
Generation
Reset
TAP Controller
finite state machine
instruction register
test signal generator
TAP controller reset
Ident
ifi
cat
ion
R
egi
st
er
(32
bi
ts
)
control
bus
B
oundar
yS
can
(n
b
its
)
1
2
n
BD data in
BD data out
ID data out
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PDF描述
PEF22554HT DATACOM, FRAMER, PQFP144
PES12-42S-N0024
PESD3V3V4UK,132 25 W, UNIDIRECTIONAL, 4 ELEMENT, SILICON, TVS DIODE
PF38F3050L0YUQ3A SPECIALTY MEMORY CIRCUIT, PBGA88
PFC04108.2UHKT 1 ELEMENT, 8.2 uH, GENERAL PURPOSE INDUCTOR
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