參數(shù)資料
型號: T8301
英文描述: T8301 Internet Protocol Telephone Phone-On-A-Chip⑩ IP Solution DSP
中文描述: T8301因特網(wǎng)協(xié)議電話熱線電話在一個(gè)芯片⑩DSP的IP解決方案
文件頁數(shù): 104/190頁
文件大小: 1535K
代理商: T8301
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Data Sheet
March 2000
DSP1627 Digital Signal Processor
68
Lucent Technologies Inc.
8 Device Characteristics
8.1 Absolute Maximum Ratings
Stresses in excess of the absolute maximum ratings can cause permanent damage to the device. These are abso-
lute stress ratings only. Functional operation of the device is not implied at these or any other conditions in excess
of those given in the operational sections of the data sheet. Exposure to absolute maximum ratings for extended
periods can adversely affect device reliability.
External leads can be bonded and soldered safely at temperatures of up to 300
°
C.
Voltage Range on V
DD
with Respect to Ground Using Devices Designed for 5 V Operation.............–0.5 V to +7 V
Voltage Range on V
DD
with Respect to Ground Using Devices Designed for 3 V Operation..........–0.5 V to +4.6 V
Voltage Range on Any Pin ............................................................................................ .V
SS
– 0.5 V to V
DD
+ 0.5 V
Power Dissipation................................................................................................................................................1 W
Ambient Temperature Range......................................................................................................... –40
°
C to +85
°
C
Storage Temperature Range
....................................................................................................................–
65
°
C to +150
°
C
8.2 Handling Precautions
All MOS devices must be handled with certain precautions to avoid damage due to the accumulation of static
charge. Although input protection circuitry has been incorporated into the devices to minimize the effect of this static
buildup, proper precautions should be taken to avoid exposure to electrostatic discharge during handling and mount-
ing. Lucent Technologies employs a human-body model for ESD susceptibility testing. Since the failure voltage of
electronic devices is dependent on the current, voltage, and hence, the resistance and capacitance, it is important
that standard values be employed to establish a reference by which to compare test data. Values of 100 pF and
1500
are the most common and are the values used in the Lucent Technologies human-body model test circuit.
The breakdown voltage for the DSP1627 is greater than 2000 V.
8.3 Recommended Operating Conditions
The ratio of the instruction cycle rate to the input clock frequency is 1:1 without the PLL (referred to as 1X operation)
and M/(2N) with the PLL selected (see Section 4.12). Device speeds greater than 50 MIPS do not support 1X
operation; use the PLL.
Table 60. Recommended Operating Conditions
Maximum
Instruction Rate
(MIPS)
50
Device Speed
Input Clock
Package Supply Voltage
V
DD
(V)
Min
2.7
Ambient Temperature
T
A
(
°
C)
Min
–40
Max
3.3
Max
85
20 ns
CMOS, small-signal,
crystal
CMOS, small-signal,
crystal
CMOS, small-signal,
crystal
CMOS, small-signal,
crystal
CMOS, small-signal,
crystal
BQFP
or TQFP
BQFP
or TQFP
BQFP
or TQFP
BQFP
or TQFP
BQFP
or TQFP
80
12.5 ns
2.7
3.3
–40
85
100
10 ns
3.0
3.6
–40
85
70
14 ns
4.75
5.25
–40
85
90
11 ns
4.75
5.25
–40
85
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