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參數(shù)資料
| 型號： | SC1100 |
| 廠商： | National Semiconductor Corporation |
| 英文描述： | Geode⑩ Information Appliance On a Chip |
| 中文描述： | Geode⑩信息家電在一個芯片 |
| 文件頁數(shù)： | 279/348頁 |
| 文件大?。?/td> | 2063K |
| 代理商： | SC1100 |
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Revision 1.1
279
www.national.com
G
6.0
Debugging and Monitoring
6.1
The Test Access Port (TAP) allows board level interconnec-
tion verification and chip production tests. An IEEE-
1149.1a compliant test interface, TAP supports all IEEE
mandatory instructions as well as several optional instruc-
tions for added functionality. See Table 6-1 for a summary
of all instruction support. For further information on JTAG,
refer to IEEE Standard 1149.1a-1993 Test Access Port and
Boundary-Scan Architecture.
TESTABILITY (JTAG)
6.1.1
The TAP supports all IEEE mandatory instructions, includ-
ing:
Mandatory Instruction Support
BYPASS
Presents the shortest path through a given chip (a 1-bit
shift register).
EXTEST
Drives data loaded into the JTAG path (possibly with a
SAMPLE/PRELOAD instruction) to output pins.
SAMPLE/PRELOAD
Captures chip inputs and outputs.
6.1.2
The TAP supports the following IEEE optional instructions:
Optional Instruction Support
IDCODE
Presents the contents of the Device Identification
register in serial format.
CLAMP
Ensures that the Bypass register is connected between
TDI and TDO, and then drives data that was loaded into
the Boundary Scan register (e.g., via SAMPLE-
PRELOAD instruction) to output signals. These signals
do not change while the CLAMP instruction is selected.
HIGHZ
Puts all chip outputs in inactive (floating) state
(including all pins that do not require a TRI-STATE
output for normal functionality). Note that not all pull-up
resistors are disabled in this state.
6.1.3
Pins that are not part of the JTAG chain:
JTAG Chain
USB I/Os
Table 6-1. JTAG Mode Instruction Support
Code
Instruction
Activity
000
EXTEST
Drives shifted data to output pins.
001
SAMPLE/PRELOAD
Captures inputs and system outputs.
010
IDCODE
Scans out device identifier.
011
HIGHZ
Puts all output and bidirectional pins in TRI-STATE.
100
CLAMP
Drives fixed data from Boundary Scan register.
101
Reserved
110
Reserved
111
BYPASS
Presents shortest external path through device.
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