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參數(shù)資料
| 型號： | 28229-14 |
| 廠商： | MINDSPEED TECHNOLOGIES INC |
| 元件分類： | 數(shù)字傳輸電路 |
| 英文描述： | ATM/SONET/SDH SUPPORT CIRCUIT, PBGA256 |
| 封裝： | BGA-256 |
| 文件頁數(shù)： | 220/269頁 |
| 文件大?。?/td> | 3376K |
| 代理商： | 28229-14 |
第1頁第2頁第3頁第4頁第5頁第6頁第7頁第8頁第9頁第10頁第11頁第12頁第13頁第14頁第15頁第16頁第17頁第18頁第19頁第20頁第21頁第22頁第23頁第24頁第25頁第26頁第27頁第28頁第29頁第30頁第31頁第32頁第33頁第34頁第35頁第36頁第37頁第38頁第39頁第40頁第41頁第42頁第43頁第44頁第45頁第46頁第47頁第48頁第49頁第50頁第51頁第52頁第53頁第54頁第55頁第56頁第57頁第58頁第59頁第60頁第61頁第62頁第63頁第64頁第65頁第66頁第67頁第68頁第69頁第70頁第71頁第72頁第73頁第74頁第75頁第76頁第77頁第78頁第79頁第80頁第81頁第82頁第83頁第84頁第85頁第86頁第87頁第88頁第89頁第90頁第91頁第92頁第93頁第94頁第95頁第96頁第97頁第98頁第99頁第100頁第101頁第102頁第103頁第104頁第105頁第106頁第107頁第108頁第109頁第110頁第111頁第112頁第113頁第114頁第115頁第116頁第117頁第118頁第119頁第120頁第121頁第122頁第123頁第124頁第125頁第126頁第127頁第128頁第129頁第130頁第131頁第132頁第133頁第134頁第135頁第136頁第137頁第138頁第139頁第140頁第141頁第142頁第143頁第144頁第145頁第146頁第147頁第148頁第149頁第150頁第151頁第152頁第153頁第154頁第155頁第156頁第157頁第158頁第159頁第160頁第161頁第162頁第163頁第164頁第165頁第166頁第167頁第168頁第169頁第170頁第171頁第172頁第173頁第174頁第175頁第176頁第177頁第178頁第179頁第180頁第181頁第182頁第183頁第184頁第185頁第186頁第187頁第188頁第189頁第190頁第191頁第192頁第193頁第194頁第195頁第196頁第197頁第198頁第199頁第200頁第201頁第202頁第203頁第204頁第205頁第206頁第207頁第208頁第209頁第210頁第211頁第212頁第213頁第214頁第215頁第216頁第217頁第218頁第219頁當(dāng)前第220頁第221頁第222頁第223頁第224頁第225頁第226頁第227頁第228頁第229頁第230頁第231頁第232頁第233頁第234頁第235頁第236頁第237頁第238頁第239頁第240頁第241頁第242頁第243頁第244頁第245頁第246頁第247頁第248頁第249頁第250頁第251頁第252頁第253頁第254頁第255頁第256頁第257頁第258頁第259頁第260頁第261頁第262頁第263頁第264頁第265頁第266頁第267頁第268頁第269頁
2-26
Mindspeed Technologies
28229-DSH-001-B
CX2822x Hardware Description
CX28224/5/9 Data Sheet
JT
A
G
TRST*
Test Reset
E13
I/PU
When asserted, the internal boundary-scan logic is reset.
This pin has a pull-up resistor. Do not assert this reset
unless a clock is provided on TCK.
TCK
Test Clock
F13
I
Samples the value of TMS and TDI on its rising edge to
control the boundary scan operations.
TMS
Test Mode Select
E14
I/PU
Controls the boundary-scan Test Access Port (TAP)
controller operation. This pin has a pull-up resistor.
TDI
Test Data Input
F16
I/PU
The serial test data input. This pin has a pull-up resistor.
TDO
Test Data Output
F15
O
The serial test data output.
Fa
ct
or
yT
e
st
TestEnable
T3
I
Factory test use only, tie to VSS.
TestMode
T4
I
Factory test use only, tie to VSS.
PHY
Si
de
In
ter
fac
e
PhyIntFcSel
PHY Interface Select
R4
I
If this pin is tied low, the PHY UTOPIA Interface mode is
selected.
If this pin is tied high, the PHY Serial mode is selected (as
shown in this table).
phyURxEnb[1]*
PHY UTOPIA Receive
Enable
NC
O
This pin is a No Connect when PhyIntFcSel is tied high.
phyUTxAddr[0]
PHY UTOPIA
Transmit Address
NC
O
These pins are a No Connect when PhyIntFcSel is tied high.
phyUTxAddr[3]
NC
phyUTxAddr[4]
NC
phyUTxEnb[0]*
PHY UTOPIA
Transmit Enable
NC
O
These pins are a No Connect when PhyIntFcSel is tied high.
phyUTxEnb[1]*
NC
IM
A
C
lo
cks
IMA_SysClk
IMA Subsystem
Clock
M16
I
Most of the IMA logic circuits use this clock (or a derivative
of it). It can also be used as a T1/E1 reference clock. Refer
to Chapter 3.
IMA_RefClk
IMA Subsystem
Clock
L14
I
If Ref_Xclk is to be used as a reference clock, set the
frequency as shown in Chapter 3.
TxTRL[0]
Transmit Reference
Clock
P4
O
Transmit Reference Clocks.
TxTRL[1]
A3
Table 2-5. CX28229 Pin Descriptions (5 of 12)
Pin Label
Signal Name
No.
I/O
Description
相關(guān)PDF資料 |
PDF描述 |
|---|---|
| 28230-13 | ATM SEGMENTATION AND REASSEMBLY DEVICE, PQFP208 |
| 28L0138-40R | 1 FUNCTIONS, FERRITE BEAD |
| 28L0138-70R | 1 FUNCTIONS, FERRITE BEAD |
| 28Z551 | TELECOM FILTER |
| 28Z550 | TELECOM FILTER |
相關(guān)代理商/技術(shù)參數(shù) |
參數(shù)描述 |
|---|---|
| 28-22916 | 制造商:CEBEK 功能描述:PRE ASSEMBLED MODULE BOARD PRECISION TIMER 15S-60MIN |
| 28-22918 | 制造商:CEBEK 功能描述:PRE ASSEMBLED MODULE BOARD PRECISION TIMER 0.1-10 SEC |
| 28-22920 | 制造商:CEBEK 功能描述:PRE ASSEMBLED MODULE BOARD PRECISION TIMER 1-99 SEC |
| 28-22922 | 制造商:CEBEK 功能描述:PRE ASSEMBLED MODULE BOARD SEQUENTIAL TIMER 1SEC-3MIN |
| 28-22926 | 制造商:CEBEK 功能描述:PRE ASSEMBLED MODULE BOARD ON DELAY TIMER 1-60 SECOND |
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