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參數(shù)資料
| 型號： | T7630 |
| 廠商： | Lineage Power |
| 英文描述： | Dual T1/E1 5.0 V Short-Haul Terminator (Terminator-II)(雙 T1/E1 5.0V短距離通信終端器) |
| 中文描述： | 雙T1/E1的5.0V的短途終結(jié)者（終結(jié)者-Ⅱ）（雙個(gè)T1/E1 5.0V短距離通信終端器） |
| 文件頁數(shù)： | 92/210頁 |
| 文件大小： | 3075K |
| 代理商： | T7630 |
第1頁第2頁第3頁第4頁第5頁第6頁第7頁第8頁第9頁第10頁第11頁第12頁第13頁第14頁第15頁第16頁第17頁第18頁第19頁第20頁第21頁第22頁第23頁第24頁第25頁第26頁第27頁第28頁第29頁第30頁第31頁第32頁第33頁第34頁第35頁第36頁第37頁第38頁第39頁第40頁第41頁第42頁第43頁第44頁第45頁第46頁第47頁第48頁第49頁第50頁第51頁第52頁第53頁第54頁第55頁第56頁第57頁第58頁第59頁第60頁第61頁第62頁第63頁第64頁第65頁第66頁第67頁第68頁第69頁第70頁第71頁第72頁第73頁第74頁第75頁第76頁第77頁第78頁第79頁第80頁第81頁第82頁第83頁第84頁第85頁第86頁第87頁第88頁第89頁第90頁第91頁當(dāng)前第92頁第93頁第94頁第95頁第96頁第97頁第98頁第99頁第100頁第101頁第102頁第103頁第104頁第105頁第106頁第107頁第108頁第109頁第110頁第111頁第112頁第113頁第114頁第115頁第116頁第117頁第118頁第119頁第120頁第121頁第122頁第123頁第124頁第125頁第126頁第127頁第128頁第129頁第130頁第131頁第132頁第133頁第134頁第135頁第136頁第137頁第138頁第139頁第140頁第141頁第142頁第143頁第144頁第145頁第146頁第147頁第148頁第149頁第150頁第151頁第152頁第153頁第154頁第155頁第156頁第157頁第158頁第159頁第160頁第161頁第162頁第163頁第164頁第165頁第166頁第167頁第168頁第169頁第170頁第171頁第172頁第173頁第174頁第175頁第176頁第177頁第178頁第179頁第180頁第181頁第182頁第183頁第184頁第185頁第186頁第187頁第188頁第189頁第190頁第191頁第192頁第193頁第194頁第195頁第196頁第197頁第198頁第199頁第200頁第201頁第202頁第203頁第204頁第205頁第206頁第207頁第208頁第209頁第210頁
Preliminary Data Sheet
October 2000
T7630 Dual T1/E1 5.0 V Short-Haul Terminator (Terminator II)
92
L Lucent Technologies Inc.
Alarms and Performance Monitoring
(continued)
5-3915(F).er.1
Figure 43. 15-Stage Shift Register Used to Generate the Pseudorandom Signal
I
The idle code test pattern, enabled by setting register FRM_PR20 bit 6 to 1, which consists of:
— The programmable idle code, programmed through register FRM_PR22, in time slots 1—24 in DS1 and 0—31
in CEPT.
— Valid framing pattern.
— Valid transmit facility data link (TFDL) bit data.
— Valid CRC bits.
Transmit Line Test Patterns—Using Register FRM_PR69
Framed or unframed patterns indicated in Table 46 may be generated and sent to the line by register FRM_PR69
and by setting register FRM_PR20 to 00 (hex). Selection of transmission of either a framed or unframed test pat-
tern is made through FRM_PR69 bit 3. If one of the test patterns of register FRM_PR69 is enabled, a single bit
error can be inserted into the transmitted test pattern by toggling register FRM_PR69 bit 1 from 0 to 1.
Table 46. Register FRM_PR69 Test Patterns
Pattern
Register FRM_PR69
Bit 7 Bit 6
0
0
0
0
Bit 5
0
0
Bit 4
0
1
MARK (all ones AIS)
QRSS (2
20
– 1 with zero suppression)
2
5
– 1
63 (2
6
– 1)
511 (2
9
– 1)
511 (2
9
– 1) reversed
2047 (2
11
– 1)
2047 (2
11
– 1) reversed
2
15
– 1
2
20
– 1
2
20
– 1
2
23
– 1
1:1 (alternating)
0
0
1
0
0
0
1
1
0
1
0
0
0
1
0
1
0
1
1
0
0
1
1
1
1
0
0
0
1
1
0
0
0
1
1
0
1
0
1
1
1
1
0
0
D
XOR
D-TYPE FLIP-FLOPS
#1
D
D
#2
#3
D
#13
D
D
#14
#15
A
B
C
PSEUDORANDOM
TEST OUTPUT
相關(guān)PDF資料 |
PDF描述 |
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參數(shù)描述 |
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