- 您現(xiàn)在的位置：買賣IC網(wǎng) > PDF目錄376460 > XRT7245 (Exar Corporation) DS3 ATM User Network Interface(DS3異步傳輸模式用戶網(wǎng)絡(luò)接口) PDF資料下載
參數(shù)資料
| 型號(hào)： | XRT7245 |
| 廠商： | Exar Corporation |
| 英文描述： | DS3 ATM User Network Interface(DS3異步傳輸模式用戶網(wǎng)絡(luò)接口) |
| 中文描述： | DS3自動(dòng)柜員機(jī)用戶網(wǎng)絡(luò)接口（DS3異步傳輸模式用戶網(wǎng)絡(luò)接口） |
| 文件頁數(shù)： | 68/324頁 |
| 文件大?。?/td> | 4103K |
| 代理商： | XRT7245 |
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XRT7245
DS3 UNI FOR ATM
á
PRELIMINARY
REV. 1.03
68
The “Read/Write” bit-fields, within this register; along
with those bit-fields within the “Test Cell Header Byte-
1, -3 and - 4” registers; allows the user to define the
header byte patterns for each of the “test cells” that will
be generated by the Test Cell Generator. This particu-
lar register allows the user to define the pattern for the
second octet of these test cells.
3.3.2.10
Test Cell Header Byte-3
The “Read/Write” bit-fields, within this register; along
with those bit-fields within the “Test Cell Header Byte-
1, - 2 and - 4” registers; allows the user to define the
header byte patterns for each of the “test cells” that
will be generated by the Test Cell Generator. This
particular register allows the user to define the pat-
tern for the third octet of these test cells.
3.3.2.11
Test Cell Header Byte-4
The “Read/Write” bit-fields, within this register; along
with those bit-fields within the “Test Cell Header Byte-
1 through -3” registers; allows the user to define the
header byte patterns for each of the “test cells” that
will be generated by the Test Cell Generator. This
particular register allows the user to define the pat-
tern for the fourth octet of these test cells.
3.3.2.12
Test Cell Error Accumulator—MSB
These “Reset-upon-Read” bit fields, along with those
of the “Test Cell Error Accumulator—LSB” Register
(Address = 0Dh), contains a 16-bit representation of
the number of erred test cells that have been detect-
ed by the “Test Cell Receiver” since the last read of
these registers. This register contains the upper-byte
value for the 16-bit expression.
Note:
The contents of these registers are valid only if the
Test Cell Receiver has acquired “PRBS Lock” with the pay-
load data of the test cells that it has received.
Address = 0Ah, Test Cell Header Byte-3
B
IT
7
B
IT
6
B
IT
5
B
IT
4
B
IT
3
B
IT
2
B
IT
1
B
IT
0
Test Cell Header Byte 3
R/W
R/W
R/W
R/W
R/W
R/W
R/W
R/W
0
0
1
1
0
0
1
1
Address = 0Bh, Test Cell Header Byte-4
B
IT
7
B
IT
6
B
IT
5
B
IT
4
B
IT
3
B
IT
2
B
IT
1
B
IT
0
Test Cell Header Byte 4
R/W
R/W
R/W
R/W
R/W
R/W
R/W
R/W
0
1
0
0
0
1
0
0
Address = 0Ch, Test Cell Error Accumulator—MSB
B
IT
7
B
IT
6
B
IT
5
B
IT
4
B
IT
3
B
IT
2
B
IT
1
B
IT
0
Test Cell Error—High Byte
RUR
RUR
RUR
RUR
RUR
RUR
RUR
RUR
0
0
0
0
0
0
0
0
相關(guān)PDF資料 |
PDF描述 |
|---|---|
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| XRT7288 | CEPT1 Line Interface(CEPT1線接口) |
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相關(guān)代理商/技術(shù)參數(shù) |
參數(shù)描述 |
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